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JESD47I Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits

  • 枫叶
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  • 2021-03-15 00:04:40
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文档简介(最多显示3000字):
UFS标准下载,UFS协议下载 JESD47I Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits.pdf JEDEC STANDARD Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits JESD47I (Revision of JESD47H.01, April 2011) JULY 2012 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
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